ASTM E 1855-2005 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 01:35:57 浏览:8336
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforUseof2N2222ASiliconBipolarTransistorsasNeutronSpectrumSensorsandDisplacementDamageMonitors
【原文标准名称】:作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法
【标准号】:ASTME1855-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硬度;试验方法;辐射;损伤;中子;晶体管;传感器;微电子学;硅;位移;双极晶体管
【英文主题词】:transistors;testmethods;microelectronics;hardness;bipolartransistors;radiation;neutrons;displacement;sensors;damage;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:10P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法
【标准号】:ASTME1855-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硬度;试验方法;辐射;损伤;中子;晶体管;传感器;微电子学;硅;位移;双极晶体管
【英文主题词】:transistors;testmethods;microelectronics;hardness;bipolartransistors;radiation;neutrons;displacement;sensors;damage;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:10P;A4
【正文语种】:英语
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